当前位置:首页 > 半导体封测 > 图解入门《半导体制造工艺基础精讲》 原书第4版 pdf下载

图解入门《半导体制造工艺基础精讲》 原书第4版 pdf下载

3个月前 (09-25)半导体封测611

一 内容提要: 

这本书以图解的形式向读者介绍了半导体制造工艺的基本概念和流程。通过图解,读者可以更直观地理解半导体的结构和制造过程。书中

详细介绍了半导体材料的选择和准备、晶圆制备、光刻、扩散、腐蚀、离子注入、金属化等关键步骤。同时,还介绍了常见的半导体器件

结构和工艺。

这本书还着重强调了半导体制造工艺中的关键技术和难点。比如,纳米级的光刻技术、高质量的晶圆制备技术、精确的参杂过程等都是制

约半导体工艺发展的重要因素。通过深入了解这些关键技术,读者可以更全面地掌握半导体制造工艺。

《图解入门——半导体制造工艺基础精讲pdf》适用于对半导体制造工艺感兴趣的学生、工程师和研究人员。通过阅读本书,读者可以系

统地学习和掌握半导体制造工艺的基础知识,并为将来从事相关工作打下坚实的基础。

总之,这本书通过图解的方式详细介绍了半导体制造工艺的基本概念和流程,强调了关键技术和难点。它适用于对半导体制造工艺感兴趣

的读者,是一本宝贵的学习资料。

二 本书目录

原书前言

半导体制造工艺全貌/

1-1半导体工艺简介/

1-2前段制程和后段制程的区别/

1-3循环型的前段制程半导体工艺/

1-4前端工艺和后端工艺/

1-5什么是硅晶圆?/

1-6硅晶圆是如何制造的?/

1-7硅的特性是什么?/

1-8硅晶圆所需的洁净度/

1-9硅晶圆在fab中的使用方法/

1-10晶圆的大直径化/

1-11与产品化相关的后段制程/

1-12后段制程使用的工艺是什么?/

2-1追求微细化的前段制程工艺/

2-2批量制造芯片的前段制程/

2-3在没有“等待”的工艺中进行必要的检查和监控/

2-4前段制程fab的全貌/

2-5fab的生产线构成——什么是Bay方式?/

2-6晶圆厂需要尽早提升良品率/

3-1始终保持洁净的清洗工艺/

3-2清洗方法和机理/

3-3基础清洗——RCA清洗/

3-4新清洗方法的例子/

3-5批量式和单片式之间的区别/

3-6吞吐量至关重要的清洗工艺/

3-7清洗后必不可少的干燥工艺/

3-8新的干燥工艺/

3-9湿法工艺和干法清洗/

4-1注入杂质的离子注入技术/

4-2需要高真空的离子注入工艺/

4-3用于不同目的的离子注入工艺/

4-4离子注入后的晶格恢复处理/

4-5各种热处理工艺/

4-6*新的激光退火工艺/

4-7LSI制造和热预算/

5-1复制图形的光刻工艺/

5-2光刻工艺的本质就是照相/

5-3推动微细化的曝光技术的演变/

5-4掩膜版和防尘薄膜/

5-5相当于相纸的光刻胶/

5-6涂布光刻胶膜的涂胶机/

5-7曝光后必需的显影工艺/

5-8去除不要的光刻胶灰化工艺/

5-9浸液曝光技术现状/

5-10什么是双重图形?/

5-11追求进一步微细化的EUV 技术/

5-12纳米压印技术/

6-1刻蚀工艺流程和刻蚀偏差/

6-2方法多样的刻蚀工艺/

6-3刻蚀工艺中不可或缺的等离子体/

6-4RF(射频)施加方式有什么不同?/

6-5各向异性的机理/

6-6干法刻蚀工艺的挑战/

7-1LSI功能不可或缺的成膜工艺/

7-2方法多样的成膜工艺/

7-3受基底形状影响的成膜工艺/

7-4直接氧化晶圆的氧化工艺/

7-5热CVD和等离子体CVD/

7-6金属膜所需要的溅射工艺/

7-7Cu(铜)布线不可缺少的电镀工艺/

7-8Low-k(低介电常数)膜所使用的涂布工艺/

7-9High-k栅极堆叠工艺/

7-10Cu/Low-k工艺/

8-1多层布线不可或缺的CMP工艺/

8-2采用先进光刻技术的CMP工艺/

8-3回归湿法工艺的CMP设备/

8-4消耗品多的CMP工艺/

8-5CMP的平坦化机理/

8-6应用于Cu/Low-k的CMP工艺/

8-7课题堆积如山的CMP工艺/

9-1什么是CMOS?/

9-2CMOS的效果/

9-3CMOS结构制造(之一)器件间隔离区域/

9-4CMOS结构制造(之二)阱形成/

9-5晶体管形成(之一)栅极形成/

9-6晶体管形成(之二)源极/漏极/

9-7电极形成(钨塞形成)/

9-8后端工艺/

10-1去除不良品的晶圆测试/

10-2使晶圆变薄的减薄工艺/

10-3切割出芯片的划片/

10-4粘贴芯片/

10-5电气连接的引线键合/

10-6封装芯片的注塑/

10-7产品的打标和引线成形/

10-8*终检验流程/

11-1连接时没有引线的无引线键合/

11-2无须引线框架的 BGA/

11-3旨在实现多功能的 SiP/

11-4真实芯片尺寸的晶圆级封装/

12-1路线图和“路线图外”/

12-2站在十字路口的半导体工艺微细化/

12-3More Moore所必需的NGL/

12-4EUV技术趋势/

12-5450mm晶圆趋势/

12-6半导体晶圆厂的多样化/

12-7贯通芯片的 TSV(Through Silicon Via)/

12-8对抗More Moore的三维封装/

三 图书PDF下载:

图解入门——半导体制造工艺基础精讲(原书第4版)

图解入门-半导体制造.pdf



本博客所有原创作品,包括文字、资料、图片、网页格式,转载时请标注作者与来源。非经允许,不得用于赢利目的,本博客受中国知识产权、互联网法规和知识共享条例保护和保障,任何人不得进行旨在破坏或牟取私利的行为。

相关文章

半导体行业常用《质量管理工具及方法》

半导体行业常用《质量管理工具及方法》

8D问题解决法8D问题解决法(Eight Disciplines Problem Solving,缩写:8D)也称为团队导向问题解决方法或8D report,是一个处理及解决问题的方法,常用于品质工程...

半导体行业从业必背英文-通用英语

半导体行业从业必背英文-通用英语

               图一:半导体行业常用英语通用版(详见上图)      &nb...